Sparčiųjų skaitmeninių integrinių grandynų ir informacijos keitiklių dinaminių parametrų testavimas

917665

Rokas Kvedaras, Vygaudas Kvedaras

Mokomoji knyga

4,12 EUR
Su mokesčiais
Kiekis

Aprašymas

Knygoje pateikiama medžiaga aprėpia sparčiųjų integrinių grandynų (IG), skaitmeninių-analoginių keitiklių (SAK) ir analoginių skaitmeninių keitiklių (ASK) vertinamojo bandymo ir parametrų nustatymo problemas.

Elektroninių sistemų testavimas padeda užtikrinti gaminamų sistemų kokybę ir naudojimo patikimumą. Tai svarbus uždavinys šių sistemų gamybos procese. Dabar praktikoje labai plačiai naudojami skaitmeniniai integriniai grandynai (SIG) ir integriniai informacijos keitikliai – skaitmeniniai-analoginiai (SAK) bei analoginiai-skaitmeniniai (ASK). Šių įrenginių vertinamojo bandymo problemos sudėtingos, būtini specialūs metodai bei įranga.

Leidinys skirtas Vilniaus Gedimino technikos universiteto elektronikos specialybių magistrantūros studentams, studijuojantiems elektroninių sistemų testavimo (ELESM03701) modulį. Žinios gali būti reikalingos elektronikos inžinieriams praktikams.

Leidinio elektroninis variantas:

DOI: https://doi.org/10.3846/1218-S

Detaliau
VGTU leidykla "Technika"
917665
55 egz.

Charakteristikos

Metai:
2011
ISBN:
978-9955-28-921-0
eISBN:
978-9955-28-919-7
Leidyklos nr.:
1218-S
Matmenys:
145×205 mm
Puslapių skaičius:
116 p.
Viršelis:
minkštas
Kalba:
lietuvių
Priedai
Atsisiųsti
Content/Turinys_1218_S

Atsisiųsti (84.62k)
16 kitos knygos toje pačioje kategorijoje:

Sekite mus Facebook'e