Padėties ir poslinkių matavimas

Monografijoje apžvelgti staklių ir prietaisų geometrinių tikslumo parametrų matavimo teoriniai aspektai ir praktinis įvairių metodų ir priemonių taikymas, papildytas kai kuriais naujais matavimo būdų ir priemonių aprašymais. Išnagrinėti kampų ir ilgių matų tikslumo parametrai ir jų matavimo būdai, precizinių limbų matavimo būdai ir priemonės, kampų ir ilgių matavimų tikslumo didinimo galimybės. Aprašyti nauji kampinių ir linijinių skalių matavimo būdai naudojant muarinį vaizdą. Pateikta nauja teorinė muarinės rastrų sąveikos parametrų diskretinė išraiška, kuri gali būti taikoma rastrinių skalių matavimams. Naujai pateiktas skalių matavimo procesas, naudojant paklaidų keitimą į nuokrypas nuo tiesės, o apskritiminių skalių atveju - nuo apskritimo. Aprašyti technologinių įrenginių ir prietaisų matavimo sistemose taikomi tikslumo didinimo būdai, informacinių matavimo sistemų tikslumo tyrimas ir jo gerinimas. Apžvelgti staklių ir mašinų paklaidų matavimo darbiniame tūryje principai. Aprašyti objektų padėties ir mažų atstumų matavimo įtaisai. Leidiniu galės naudotis pramonės įmonių specialistai, mokslo darbuotojai ir tyrinėtojai, magistrantai ir matavimo dalykus studijuojantys studentai.